利用第23太陽周期間GPS/TEC數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析電離層對(duì)耀斑響應(yīng),首次定量分析了電離層響應(yīng)的太陽天頂角依賴,統(tǒng)計(jì)結(jié)果表明天頂角90度地方的TEC增幅約為天頂角0度地方的39%。統(tǒng)計(jì)分析了耀斑位置對(duì)電離層響應(yīng)的影響,發(fā)現(xiàn)電離層響應(yīng)的耀斑位置效應(yīng)隨耀斑等級(jí)增強(qiáng)變得更顯著(如圖1),而之前EUV輻射與X射線的統(tǒng)計(jì)分析發(fā)現(xiàn)EUV輻射有同樣的耀斑位置效應(yīng),這進(jìn)一步證實(shí)電離層耀斑效應(yīng)主要由EUV 輻射貢獻(xiàn),而不是X 射線。構(gòu)建了電離層耀斑響應(yīng)的統(tǒng)計(jì)經(jīng)驗(yàn)?zāi)J?,?duì)電離層響應(yīng)預(yù)報(bào)的平均誤差為33%,耀斑越大,預(yù)報(bào)越準(zhǔn)確。統(tǒng)計(jì)結(jié)果還表明TEC響應(yīng)與EUV輻射顯著相關(guān),且是非線性相關(guān)。

圖1. 不同等級(jí)耀斑期間ΔTEC與太陽天頂角的關(guān)系
該研究結(jié)果發(fā)表在國際地學(xué)期刊Journal of Geophysical Research(Le, H., L. Liu, Y. Chen, and W. Wan (2013), Statistical analysis of ionospheric responses to solar flares in the solar cycle 23, J. Geophys. Res. Space Physics, 118, 576–582, doi:10.1029/2012JA017934.).