| 入庫號(hào) | Patent202111290010 |
| 專利名稱 | 一種基于遺傳算法的非相干散射雷達(dá)數(shù)據(jù)反演方法 |
| 專利國別 | 中國 |
| 專利類型 | 發(fā)明專利 |
| 申請(qǐng)途徑 | 國內(nèi) |
| 專利權(quán)人 | 中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所 |
| 專利號(hào) | ZL 2020 1 0375758.9 |
| 發(fā)明設(shè)計(jì)人 | 王俊逸;樂新安;趙必強(qiáng);丁鋒;萬衛(wèi)星 |
| 設(shè)計(jì)人數(shù) | 5 |
| 第一發(fā)明設(shè)計(jì)人 | 王俊逸 |
| 第一發(fā)明設(shè)計(jì)人部門 | 2-地球與行星物理院重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 |
| 第一發(fā)明設(shè)計(jì)人職稱 | 工程師 |
| 申請(qǐng)?zhí)?/strong> | CN202010375758.9 |
| 申請(qǐng)日 | 2020-05-07 |
| 授權(quán)公告日 | 2021-07-13 |
| 代理公司 | 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 |
| 代理人 |
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| 專利摘要 | 本發(fā)明涉及一種基于遺傳算法的非相干散射雷達(dá)數(shù)據(jù)反演方法,根據(jù)非相干散射雷達(dá)探測得到的電離層散射信號(hào)自相關(guān)函數(shù),結(jié)合信號(hào)的調(diào)制與濾波包絡(luò),對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行積分離散化,完成電離層多參量反演系統(tǒng)建模,確定適應(yīng)度評(píng)價(jià)函數(shù);將一個(gè)電離層參量作為一個(gè)元素,依次排列組成一個(gè)電離層參量樣本,根據(jù)遺傳算法設(shè)定的樣本個(gè)數(shù),產(chǎn)生電離層參量樣本的初始集合,并根據(jù)適應(yīng)度評(píng)價(jià)完成父代篩選;通過對(duì)父代電離層參量樣本集合的交叉和變異計(jì)算,循環(huán)得到適應(yīng)度最好的電離層參量樣本即為最終電離層各個(gè)目標(biāo)參量的反演結(jié)果。本發(fā)明具有結(jié)果準(zhǔn)確且可靠性高,輸入信息少、魯棒性好等優(yōu)點(diǎn),可用于非相干散射雷達(dá)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理、空間物理和空間天氣研究等。 |
| 備注 |
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| ARP編碼 | wangjunyi |