| 入庫號 | Patent202011280001 |
| 專利名稱 | 基于CLEAN算法的電離層電子密度反演方法 |
| 專利國別 | 中國 |
| 專利類型 | 發(fā)明專利 |
| 申請途徑 | 國內(nèi) |
| 專利權(quán)人 | 中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所 |
| 專利號 | ZL202010430957.5 |
| 發(fā)明設(shè)計(jì)人 | 郝紅連;趙必強(qiáng);樂新安;丁鋒;曾令旗 |
| 設(shè)計(jì)人數(shù) | 5 |
| 第一發(fā)明設(shè)計(jì)人 | 郝紅連 |
| 第一發(fā)明設(shè)計(jì)人部門 | 2-地球與行星物理院重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 |
| 第一發(fā)明設(shè)計(jì)人職稱 | 工程師 |
| 申請?zhí)?/strong> | 202010430957.5 |
| 申請日 | 2020-05-20 |
| 授權(quán)公告日 | 2020-10-27 |
| 代理公司 | 北京恒有知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) |
| 代理人 | 郭文浩 |
| 專利摘要 | |
| 備注 | |
| ARP編碼 | haohonglian |